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软X射线 / XUV / VUV光谱仪

软X射线/XUV/VUV光谱仪具有集成的狭缝支架、闸阀和滤光片插入装置,以及沿三个轴的电动光栅定位功能。

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EVEREST 软X射线 / XUV / VUV光谱仪

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我们的软X射线/XUV/VUV光谱仪具有矫正像差的平场成像功能,并配备三个光栅,覆盖波长范围为1-17 nm(73 - 1240 eV)、5-80 nm(15 - 248 eV)和30-200 nm(6 - 41 eV)。为了最大程度提高光收集效率,该光谱仪可以在不同的光源距离下使用,包括3-17 nm、10-80 nm和30-200 nm的波长范围,而无需入射狭缝。其模块化设计可适应不同的实验几何和配置。它具有集成的狭缝支架、闸阀和滤光片插入装置,以及沿三个轴的电动光栅定位功能。

主要特点/优势:EVEREST 软X射线 / XUV / VUV光谱仪

  • 平场斜入射光谱仪
  • 单个光栅的波长覆盖范围:
    • 软X射线: 1-17 nm (73 – 1240 eV)
    • XUV: 5-80 nm (15 – 248 eV)
    • VUV: 30-200 nm (6 – 41 eV)
    • 可选择电动三光栅版本
  • 可带或不带入射狭缝操作
  • 适用于不同几何选项的适配器
  • 集成闸阀和滤光片插入装置
  • 操作压力<10-6 mbar,可选择独立真空操作的无油泵系统
  • 灵活选择探测器:X射线CCD相机或MCP相机系统
  • 用户友好的对准、采集和查看软件,包括后处理工具

规格参数:

  光栅 1 光栅 2 光栅 3
波长范围 1-6 nm 3-17 nm 5-20 nm 10-60 nm 25-80 nm 80-200 nm 30-200 nm
光子能量范围 207-1240 eV 73-413 eV 62-248 eV 21-124 eV 15-50 eV 6-15 eV 6-41 eV
操作模式 入口狭缝 无狭缝 入口狭缝 无狭缝 无狭缝 入口狭缝 无狭缝
光源距离 任意 0.4-0.6 m 任意 0.4-0.6 m 0.5-1.5 m 任意 2-10 m
分辨率 0.01 nm 0.03 nm 0.02 nm 0.09 nm 0.1 nm 0.05 nm 0.2 nm

样品测量:

作为样品测量,下面的图像展示了我们的软X射线/XUV/VUV光谱仪和软件的能力。它显示了通过飞秒激光脉冲与气体靶的相互作用以及随后的光谱滤波所产生的高次谐波谱,该谱由软X射线/XUV CCD相机获取。我们还提供后处理工具,用于校准、合并和分析大量原始数据,如下所示。最终的XUV光谱揭示了与生成过程固有的最精细的亚结构。

  • 左图:我们用户友好的软件的截图,显示了XUV光子范围内高次谐波生成辐射的测量结果
  • 右图:相应的已校准的光谱,以波长和能量表示

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