我们的白光干涉仪GOBI采用光谱解析干涉法，精确测量多层次的超快光学元件的群延迟色散（GDD）。该设备是在德国马克斯·普朗克量子光学研究所（位于加尔帕兴）开发的，用于表征和优化迄今为止一些最先进的镀膜。
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产品描述
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GOBI® 白光干涉仪 |
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我们的白光干涉仪GOBI采用光谱解析干涉法，精确测量多层次的超快光学元件的群延迟色散（GDD）。该设备是在德国马克斯·普朗克量子光学研究所（位于加尔帕兴）开发的，用于表征和优化迄今为止一些最先进的镀膜。 将光谱信息与时间信息相结合，并有可能在同一光学元件上累积多次通过，可确保可靠的结果，具有独特的光谱范围，包括250-1060 nm（UV/VIS/NIR版本）和900-2400 nm（IR版本）。光谱分辨率检测消除了参考激光器以及与特定反射或透射波段相关的测试样品限制的需要。这使得即使是超宽带或先进的窄带镀膜也可以进行全光谱范围的表征。灵活的光学设置可以测量在0到70度之间可变的入射角下的镜子和透明样品。 GOBI®基于Michelson干涉仪，配备了一个非相干的白光（WL）光源。通过扫描一个干涉臂的延迟并光谱记录不断演化的干涉图案来获取数据。完全自动化的分析可产生光谱相位和GDD。光谱仪直接提供光谱分辨率的信息，避免了来自时域重建的人为伪迹。它还提供了延迟扫描的固有校准参考，因此无需额外的参考激光器。这使得GOBI®适用于检测范围内的任何光学测量，无需在透射或反射中覆盖参考激光器波长。 |
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主要特点/优势：GOBI® |
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规格参数： |
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样品测量： |
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与其他设备不同，GOBI能够分辨出强烈的GDD振荡。请注意，测量曲线与理论曲线之间的差异反映了镀膜制造过程中的公差。 以下是使用我们的白光干涉仪 GOBI进行的GDD测量示例，以及与理论设计的比较。 （a）超宽带PC70镜子，采用我们独特的双角度设计，在5°和19°法线入射角下测量，以及平均值。 （b）红外线用的脉冲压缩镜子PC1921。 （c）1030 nm时，具有-3000 fs²每次反弹的高色散HD73镜子。 |
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