具有快速延迟线的扫描干涉自相关仪专为多光子显微镜应用而设计。该装置配备了内部和外部光电探测器单元，并能够在样品位置测量脉冲持续时间。
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产品描述
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AA-M.用于显微镜的扫描实时自相关仪 |
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AA-M提供两个同时测量点：一个位于显微镜的焦平面，另一个位于设备的光学头放置的位置，即位于显微镜输入之前的某处。通过比较这两个测量中获得的脉冲持续时间值，确定了由于显微镜光学元件的色散引入的脉冲展宽。在显微镜中应用超短脉冲的大多数情况下，必须对显微镜焦点光斑中的光束的时间和空间特性进行表征是至关重要的。这些测量对于任何实验都至关重要，因为脉冲越短，非线性成像过程（双光子激发）的效率越高，需要的激发能量就越少。在确定样本的曝光时间时，也需要进行光束表征。这确保了图像优化和正确的强度水平估计，因为不正确的数值甚至可能导致样品损坏。 该自相关仪可以覆盖各种波长范围，并通过使用3套可互换的光电探测器和光学器件组合这些范围。也可以根据需要覆盖两个单独的范围。输入脉冲持续时间范围从20 fs到12 ps，便于监测不同激光系统。 该设备配备了USB接口，可以轻松连接到Windows操作系统的个人电脑上。软件随设备提供，并包括几个有用的工具。获取的脉冲持续时间数据可以实时可视化、存储或导出到.txt或.dat文件中。自相关函数和飞秒中的最终FWHM脉冲持续时间都是实时计算和显示的。此外，启用了高斯或sech2拟合选项，还可以观察强度函数。统计查看器功能允许比较从几个单独的脉冲测量中获取的数据。 |
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主要特点/优势： |
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规格参数： |
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产品应用： |
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生物成像
时间分辨超快研究
激光系统设计、集成和放大 超快激光诊断、附件和组件
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