XY扫描狭缝光束分析仪

Beam'R2非常适合许多激光光束剖析应用。

零售价

0.0

元

市场价

0.0

元

浏览量:

1000

所属分类

数量

库存:

产品描述

订购信息&资料下载

Beam'R2非常适合许多激光光束剖析应用。具备标准的2.5 µm缝隙和较大的刀口缝隙，Beam'R2能够测量直径小至2 µm的光束。具备硅和InGaAs或扩展InGaAs两种选项，Beam'R2可以剖析波长从190 nm到2500 nm的光束。扫描缝隙仪器提供比基于相机的系统更高的分辨率。

规格	详情
波长	硅探测器：190至1150 nm
	InGaAs探测器：650至1800 nm
	硅+InGaAs探测器：190至1800 nm
	硅+InGaAs（扩展）探测器：190至2300或2500 nm
扫描的光束直径	硅探测器：5 µm至4 mm，刀口模式下可达2 µm
	InGaAs探测器：10 µm至3 mm，刀口模式下可达2 µm
	InGaAs（扩展）探测器：10 µm至2 mm，刀口模式下可达2 µm
光束腰直径测量	ISO 11146的二阶矩（4σ）直径
	适合的高斯和顶帽
	1/e²（13.5%）宽度
	用户可选择的峰值百分比
	适用于非常小的光束的刀口模式
测量的光源	持续波（CW）；脉冲激光，Φ µm ≥ [500/(PRR in kHz)]
分辨率准确度	0.1 µm或扫描范围的0.05%
分辨率准确度	± < 2% ± = 0.5 µm
最大功率和辐照度	总计1W和0.5 mW/µm²
增益范围	1000:1切换；4096:1 ADC范围
显示的图形	X-Y位置和剖析，缩放1至16倍
更新速率	约5 Hz
合格/不合格显示	可在屏幕上选择合格/不合格的颜色。非常适合质量控制和生产。
平均	用户可选择的滚动平均（1至8个样本）
统计数据	最小值、最大值、平均值、标准差，长时间记录数据
XY剖析和质心	光束漂移显示和记录
最低计算机要求	Windows，2 GB RAM，USB 2.0/3.0端口