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白光干涉仪/色散测量仪

灵活测量高反镜和色散补偿反射镜的GD和GDD,可测量近红外、可见光和UV波段,有强大的数据处理软件,测量结果与理论计算高度吻合,工作过程快速简单。

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Ultrafast Innovations - RSI-GDD测量仪

由于制造误差的不可避免,色散补偿反射镜的GD和GDD会与理论设计有偏离,GD和GDD对镀膜的厚度非常敏感,所以即使用最先进的亚纳米层沉积技术,误差也是不可能被完全消除的,所以对GD和GDD的准确测量于基于色散补偿反射镜的超快光学系统获得的优异性能起着至关重要的作用。另外,对色散补偿反射镜的GD和GDD的准确测量可逆向对生产过程进行反馈,以进一步提高生产的准确性。

技术特点:

技术参数:

  • 灵活测量高反镜和色散补偿反射镜的GD和GDD
  • 可测量近红外、可见光和UV波段
  • 强大的数据处理软件
  • 测量结果与理论计算高度吻合
  • 快速简单的工作过程
  • 光谱宽度:250-1100 nm或900-2100 nm
  • 光学分辨率:~1 nm (250-1100 nm)/2 nm(900-2100 nm)
  • GDD绝对精度:10 fs2
  • GDD相对精度:5 fs2
  • 尺寸:60×60 cm2

经典案例:

GD (a)和GDD (b)是实际测量UV光束

在镜面的反射率(绿色曲线)

和相应的理论预测(红线)的对比

超宽带的96层膜色散补偿

反射镜的GD (c)和GDD (d)的

实际测量(绿色)和理论数据(红色)的对比

 

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