超快产品-飞秒测量设备
Frozzer专门开发用于表征Fastlite高通量中红外OPCPA光源的输出，可以测量1至5 µm之间的3个光学周期到5 ps的脉冲。
傅立叶变换中红外（MIR）光谱仪，适用于脉冲源，最低可达1 kHz
Wizzler产品可提供几乎压缩的超快激光脉冲的高对比度和单次测量的光谱相位和强度。
单发stereo-ATI相位测量仪被广泛用于测量KHz、周期级中红外激光的脉冲载波包络相位（CEP），它是一种立体时间飞行（TOF）探测仪，可以检测阈上电离（ATI）装置中二次散射的电子的左右TOF光谱，利用其高阶相位灵敏度可测量。
我们的三阶自相关仪是用于激光脉冲对比度测量的高灵敏度诊断工具。
UFI的单发位相仪可便捷地测量几周期飞秒激光脉冲的载波至包络相位（CEP）。
我们的白光干涉仪GOBI采用光谱解析干涉法，精确测量多层次的超快光学元件的群延迟色散（GDD）。该设备是在德国马克斯·普朗克量子光学研究所（位于加尔帕兴）开发的，用于表征和优化迄今为止一些最先进的镀膜。
我们的反射计GLACIER利用腔环降谱技术的极高灵敏度，可量化先进光学镀膜的损耗，下降到5 ppm。
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